日立新品｜AFM100系列原子力顯微鏡相關(guān)介紹   

AFM100系列原子力顯微鏡在提高操作便利性基礎(chǔ)上，實現(xiàn)了更低噪音，更高分辨率和更低的漂移量，可用于科學(xué)研究開發(fā)以及質(zhì)量管理。系列包括高性能AFM100 Plus及其入門型號AFM100兩種機型。通過使用AFM100/100Plus，任何人都能輕松且穩(wěn)定地獲取可靠數(shù)據(jù)，從而完成從科學(xué)研究用途到質(zhì)量管理中的日常作業(yè)。特別是AFM100 Plus，其用途廣泛，可用于3D形貌觀察、粗糙度分析、物性評估等領(lǐng)域。并可配置AFM Marking功能，實現(xiàn)與電子顯微鏡同一位置觀察。

AFM100產(chǎn)品特點：

高性能：極低系統(tǒng)噪音，低漂移；

高效率及操作簡易化：Pre-mount cantilever預(yù)裝探針系統(tǒng)，Realtune II參數(shù)自動優(yōu)化，Recipe菜單化測量；

電鏡聯(lián)用：AFM Marking功能，實現(xiàn)與日立電子顯微鏡的聯(lián)用；

高效的支持：自診斷功能，離線軟件。