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X射線熒光分析儀EA1280

2023-07-06

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詳細(xì)介紹

近年來，限制使用環(huán)境有害物質(zhì)已變得普遍，且成為保護(hù)環(huán)境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規(guī)的出臺(tái)，包括制造商在內(nèi)的很多公司都被要求控制其產(chǎn)品中包含的限制物質(zhì)數(shù)量。

新型EA1280具有中國標(biāo)準(zhǔn)（GB標(biāo)準(zhǔn)）建議要求的檢測(cè)器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導(dǎo)體檢測(cè)器，其工作效率和分析準(zhǔn)確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡(jiǎn)單的元素分析，因此其持續(xù)多次用于RoHS合規(guī)性篩查中。

1. 使用新型高性能半導(dǎo)體檢測(cè)器（硅漂移檢測(cè)器（SDD）），便于提高測(cè)試工作效率和獲得更可靠結(jié)果。

2. 采用同軸光學(xué)器件進(jìn)行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。

3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡(jiǎn)單的質(zhì)量控制和過程控制培訓(xùn)即可使用分析儀。

EA1280 技術(shù)規(guī)格

型號(hào)	EA1280
測(cè)量元素范圍	13Al～ 92U
準(zhǔn)直器（分析光斑尺寸）	5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選）
初級(jí)濾波器（用于優(yōu)化性能）	5種模式（4臺(tái)濾波器+關(guān)閉）自動(dòng)切換
樣品艙	環(huán)境大氣
檢測(cè)器	高性能SDD
分析儀尺寸	520（寬）×600（深）×445（高）mm
重量	約69 kg
樣品艙尺寸	304（寬）×304（深）×110（高）mm

EA1280是加入日立 EA1000系列分析儀的最新型號(hào)，具備強(qiáng)大的分析能力，能滿足廣泛的測(cè)試要求。

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